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Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度

Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度

更新時間:2020-11-11
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Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度及元素分析
菲希爾臺式熒光射線測厚儀,可檢測多層金屬涂層及元素分析

Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度的詳細資料:

品牌Fischer/德國菲希爾價格區間面議
產地類別進口應用領域電子,交通,冶金,航天,汽車

Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度及元素分析

Fischer測厚儀可檢測鎳 金 銀涂層厚度及元素分析

    Helmut Fischer集團是一家受德國和瑞士基金會控股、專業生產和銷售涂鍍層測厚儀、材料分析儀、微硬度測試儀和材料測試儀的集團公司。集團總部位于德國和瑞士,在德國、美國和英國各建有一個工廠、并設立了一個研究院和一個用戶應用實驗室,在*設有近50個分公司。
    公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立,自2008 年起由德國辛德芬根和瑞士休倫堡的 Helmut Fischer 基金會共同擁有。HELMUT FISCHER Holding AG 涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測試和材料測試領域可以為您提供比較先進的解決方案。

    FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術,能提供好的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術,因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產和質量管理系統中。

FISCHER臺式熒光射線測厚儀型號及功能

GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設計的 

XAN

用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。 

XUL / XULM

基于 X 射線熒光法的測試儀器,堅固耐用,快速、高效地測量鍍層厚度,特別適合電鍍行業。

XDL / XDLM / XDAL

功能強大:XDL 系列儀器具有全面的配置方案,可手動或自動測試,是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。

XDV-SDD

FISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足高要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計 

XDV-µ

FISCHER的XDV-µ型系列儀器,可用于測量電子或珠寶等行業中微小結構的產品

XUV

X 射線熒光儀器,配有用于分析輕元素的真空測量室。


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